超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统
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书名：超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统

超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统.jpg

（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译.超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统.北京市：电子工业出版社,2005.07.

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